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在半導(dǎo)體芯片制造、柔性顯示面板生產(chǎn)、新能源電池封裝等高級(jí)制造領(lǐng)域，薄膜厚度的均勻性是決定產(chǎn)品性能與良率的核心指標(biāo)。傳統(tǒng)測(cè)量方法受限于機(jī)械定位速度與單點(diǎn)檢測(cè)模式，難以滿足現(xiàn)代產(chǎn)線對(duì)"實(shí)時(shí)、全域、高速"的質(zhì)量控制需求。而新一代自動(dòng)化厚度測(cè)量?jī)x憑...
什么是納米位移電容傳感器納米位移電容傳感器由傳感器探頭、放大器和電源組成。具有結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、非接觸、頻響寬等特點(diǎn)，被認(rèn)為是*性的微位移傳感技術(shù)，廣泛用于納米位移與定位控制系統(tǒng)。納米位移電容傳感器的工作原理納米位移電容傳感器是基于理想平板電容原理設(shè)計(jì)研發(fā)的，被測(cè)物體與傳感器各自作為一個(gè)平板電極。給傳感器一個(gè)持續(xù)穩(wěn)定的交流電，交流電壓的振幅變化與電容到被測(cè)物體之間的距離成正比。交流電經(jīng)過解調(diào)，可以測(cè)出位移量。電容式位移傳感器具有信噪比大、靈敏度高、頻響寬、非線性小、精度穩(wěn)定性好、無損...
白光干涉儀是一種常見的光學(xué)測(cè)量?jī)x器，廣泛應(yīng)用于科研、工業(yè)生產(chǎn)等領(lǐng)域。選擇一款好用的白光干涉儀需要考慮多個(gè)因素，下面將對(duì)這些因素進(jìn)行詳細(xì)介紹。選擇本儀器需要考慮的因素如下：1.要考慮的是測(cè)量范圍。不同型號(hào)的具有不同的測(cè)量范圍，需要根據(jù)自己的實(shí)際需求來選擇。如果需要測(cè)量較小的物體，則可以選擇測(cè)量范圍較小的儀器；如果需要測(cè)量較大的物體，則需要選擇測(cè)量范圍比較大的儀器。此外，還需要注意測(cè)量精度和分辨率，以確保能夠滿足實(shí)際需求。2.需要考慮的是儀器的穩(wěn)定性和可靠性。白光干涉儀需要在較高...
白光干涉儀是一種基于干涉現(xiàn)象測(cè)量物體長(zhǎng)度、形狀和折射率等參數(shù)的工具，具有高精度、高分辨率、非接觸等優(yōu)點(diǎn)，在機(jī)械制造、光學(xué)制造、生命科學(xué)等領(lǐng)域得到廣泛應(yīng)用。本文將介紹它的發(fā)展現(xiàn)狀。首先，白光干涉儀在原理上與傳統(tǒng)的干涉測(cè)量?jī)x器相似，但采用了更為復(fù)雜的涉及多個(gè)光源的光路設(shè)計(jì)，因此其測(cè)量范圍更廣，可同時(shí)測(cè)量多個(gè)參數(shù)。目前，國(guó)內(nèi)外幾乎所有的干涉儀生產(chǎn)廠家都已開發(fā)出了該產(chǎn)品，并且不斷推陳出新，提高其測(cè)量精度和適用范圍。其次，隨著科技的進(jìn)步，本儀器也在不斷更新?lián)Q代。例如，近年來出現(xiàn)的全息式...
翹曲度測(cè)量?jī)x是一種常用的測(cè)試工具，可以有效地檢測(cè)材料彎曲過程中的翹曲變形程度。在選擇一款好用的翹曲度測(cè)量?jī)x時(shí)，需要關(guān)注以下幾個(gè)重要因素：1.測(cè)量精度：測(cè)量精度是選擇儀器最關(guān)鍵的考慮因素之一。高精度的儀器能夠準(zhǔn)確地測(cè)量材料的翹曲度，并能提供可靠的測(cè)試結(jié)果。因此，在選擇時(shí)，應(yīng)該優(yōu)先考慮測(cè)量精度。2.測(cè)量范圍：不同的翹曲度測(cè)量?jī)x具有不同的測(cè)量范圍。在選擇時(shí)，應(yīng)該根據(jù)所需測(cè)量的材料類型以及尺寸大小來確定所需的測(cè)量范圍。如果需要測(cè)量大型材料，則需要選擇測(cè)量范圍更廣的型號(hào)。3.操作便捷性...
薄膜厚度測(cè)量?jī)x是一款高精度、高重復(fù)性的機(jī)械接觸式精密測(cè)厚儀，專業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的薄膜、薄片、紙張、瓦楞紙板、紡織材料、非織造布、固體絕緣材料等各種材料的厚度精密測(cè)量。目前，薄膜厚度測(cè)量?jī)x可選配自動(dòng)進(jìn)樣機(jī)，更加準(zhǔn)確、高效的進(jìn)行連續(xù)多點(diǎn)測(cè)量。應(yīng)用：1.對(duì)有些材料而言，厚度測(cè)量是衡量材料質(zhì)量的基礎(chǔ)手段；2.測(cè)量的對(duì)象往往是對(duì)厚度有較高要求的材料，例如薄膜、塑料、橡膠、紙張、紡織品、金屬箔片（鋁箔、銅箔、錫箔等）、板材等等。測(cè)量厚度的目的也逐漸由控制外觀質(zhì)量發(fā)展成為保證材料進(jìn)一步完...